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地址：上海市閔行區(qū)顧戴路2578號(hào)
產(chǎn)品名稱：ETS靜電衰減性能測試儀
產(chǎn)品型號(hào)：
更新時(shí)間：2023-11-10
產(chǎn)品報(bào)價(jià)：
產(chǎn)品特點(diǎn)：標(biāo)準(zhǔn)集團(tuán)（香港）有限公司供應(yīng)ETS靜電衰減性能測試儀，為ETS直流充電法靜電衰減性能測試儀，有意者可來電詳詢或留言標(biāo)準(zhǔn)集團(tuán)（香港）有限公司。
ETS靜電衰減性能測試儀的詳細(xì)資料：
滿足標(biāo)準(zhǔn)：
美國無紡布靜電衰減測試標(biāo)準(zhǔn)IST 40.2(01)，美國聯(lián)邦標(biāo)準(zhǔn)FED-STD-101C(Method 4046)，美標(biāo)MIL-B-81705C，美軍標(biāo)MIL-PRF-81705D，中國GB 19082，中標(biāo)GJB2625
如下特點(diǎn)：
靜電衰減測試儀采用直流充電法，是符合美標(biāo)方法4046的一套完整的材料靜電特性測試系統(tǒng)。該設(shè)備是符合美軍標(biāo)MIL-PRF-81705D規(guī)范用于檢測材料是否合格的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備。406D符合美國無紡布靜電衰減測試標(biāo)準(zhǔn)IST 40.2(01)、美國聯(lián)邦標(biāo)準(zhǔn)FED-STD-101C(Method 4046)、美標(biāo)MIL-B-81705C、中國GB 19082，中標(biāo)GJB2625。
406D配置的磁吸棒用于薄膜和布匹材料的測試;金屬夾具可以測試較厚的塊狀物、發(fā)泡物或其他形狀和質(zhì)地的材料。選配IC管型夾具可以無損測試IC芯片包裝管;選配806B無損測試電極可以直接放置在試樣上，還可以測試粉體和液體靜電衰減時(shí)間。
配套法拉第測試籠提供一個(gè)屏蔽空間，試樣放置在法拉第籠內(nèi)進(jìn)行測試，法拉第籠通過配套連接線連接406D主機(jī)。法拉第籠具有互鎖裝置，打開法拉第籠時(shí)，高壓電源輸出被切斷。
STM-2驗(yàn)證模塊提供一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的電阻，電容直接采取系統(tǒng)電容。通過測試STM-2標(biāo)準(zhǔn)模塊可以驗(yàn)證是否正常。
位于法拉第籠內(nèi)的靜電壓探測頭可以卸下，放置在806B無損電極上后，可以直接測試粉體、液體和固體試樣。
產(chǎn)品參數(shù)：
充電電壓：0～5.5kV;
誤差期設(shè)置：50%、10%、1%(0);
電壓表量程：0-5kV;
計(jì)時(shí)器量程：1-99.99s;
計(jì)時(shí)分辨率：0.01s;
顯示：指針式充電電壓表(右)、指針式試樣電壓表(左)、數(shù)顯計(jì)時(shí)器(中)，彩色LED燈指示各個(gè)操作進(jìn)程;
測試模式：手動(dòng)、自動(dòng)(只能測試從5kV開始的衰減);
自動(dòng)測試次數(shù)：1-9次;
測試時(shí)間間隔：1-25秒;
輸入電源：86-264VAC，50/60Hz。
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